本系统适用于各种封装类型的电子开关在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验（HTOL）。
产品概述：本系统适用于各种封装类型的电子开关在高温环境下进行功率老炼筛选和稳态寿命试验（HTOL）。
引用标准：GJB548、GJB1515B、MIL-STD-883、MIL-M-38510...
适用器件：（光耦/继电器型）电子开关类中小功率（混合集成电路固体继电器）
适用行业：军工电子、半导体设计、封测企业...
